”少ないデータで異常を検知し、判断理由を見える化する”異常検出アルゴリズムに関する国際的な特許を取得

この度株式会社アダコテックは、少ないデータでの異常検知を検知し、判断理由を見える化するプログラムに関する国際的な特許を取得しましたので、お知らせいたします。

■特許概要
特許番号：第6903142号
発明の名称：異常検出装置、異常検出方法及びプログラム
特許取得日：2021年6月24日

■特許の内容
　今回特許を取得したのは、少ない枚数の不良品画像を有効活用して説明性の高い検査を実現する技術です。従来の異常検知技術では「ヒートマップ」という形で欠陥部分を図示していましたが、異常(不良品)と誤報(良品だが、異常を過分に検出している)の判断理由が解りにくいという問題がありました。アダコテックの技術では前処理画像やヒートマップ情報に加えて、特徴の傾向を2次元平面上(異常判別平面)で可視化します。
　これにより説明性が高まり、より精度の高い検査が実現可能となります。

（図：ヒートマップだけでは違いが解らない、”欠陥”(赤で図示)と”位置ずれによる誤報”(青で図示)の違いが「異常判別平面」により解釈可能となる）

■今後の展開
　今回は日本及び米国での特許取得でしたが、さらに欧州、中国、インドにおいても現在同様の特許を出願中です。アダコテックは各国での特許成立を目指すとともに、今回の特許取得を機に国内外の製造業への実ライン導入をさらに加速していきます。そして検品・検査の自動化を普及していくことで製造現場における生産性向上に技術で貢献し、「モノづくりの進化と革新を支える」というビジョンの実現に向けて推進してまいります。